近場探頭測試
更新時間:2024-02-02 點擊次數(shù):592
輻射發(fā)射的測試一般是使用校準過的天線進行遠場的測試,可以準確的高速我們被測件是否符合相應的EMI標準。但是遠場的結果對于問題的查找不是很方便,我們通常無法從遠場測試的結果來判斷被測件超標的源頭,是某個芯片導致的,還是內(nèi)部某條電源走線導致的。在這種情況下,近場探頭和便攜式頻譜儀便成為工程師經(jīng)常使用的手段。近場探頭
近場探頭分為電場探頭和磁場探頭。電場探頭在理想情況下只響應電場分量,主要用于檢測電壓,電場探頭的方向并不重要,而且在物理尺寸上一般都比較小,探頭越小,能夠探測的區(qū)域就越小。磁場探頭一般為環(huán)形(也有很小的是一根桿的),在理想情況下只響應磁場分量,主要用于檢測電流,更大的環(huán)能夠接收越多的磁通量,靈敏度越高,小環(huán)具有更高的空間分辨率,適用于具體定位,同時磁場探頭的方向很重要,如下圖。和近場探頭配合使用的一般還有前置放大器,因為近場探頭接收的信號信噪比一般很低,因此,使用前置放大器對信號電平進行放大。一般以下幾種情形下,需要使用到前置放大器。一是輻射水平很低的時候,二是接收設備內(nèi)部的噪聲很高,三是使用小環(huán)進行測試時,小環(huán)的靈敏度很低。
相對測試
記?。航鼒鎏筋^的測量結果和使用天線進行遠場測量的結果不能直接進行數(shù)值等效。但是存在基本的關聯(lián):如果一個信號在遠場被檢測到,那么它也可以在近場被檢測到。既遠場輻射越大,則近場也必然越大。反之則不一定。所以近場探頭的測試實際上是一個相對測試,不是數(shù)值精確的絕對測試。作為相對測試,使用近場探頭進行測試的時候,有一個參考是有必要的,通過被測件的測試結果和一個已知合格被測件或其他位置的近場測試結果進行比較,來預測遠場測試的結果。而不是使用近場測試的結果直接與EMI標準的限值線進行比較。另外,近場探頭的絕對測試數(shù)值意義不大,因為這個結果受很多因素的影響,比如測試時探頭的距離、探頭的方向、探頭的大小等都會影響該測試結果。
在近場,電場和磁場共同存在,但大小可能差異很大,而且沒有固定的轉換關系。對于高電壓、小電流的噪聲源來說,電場遠大于磁場,對于大電流、小電壓的的噪聲源來說,磁場遠大于電場。另外,在近場的區(qū)域,磁場隨著距離的變化要快于電場。
最后
總之,近場探頭主要應用于查找干擾源、對比干擾的強度。幫助工程師快速的查找干擾源,而不是絕對的精確測量。